Testeur de transistors, diodes, triodes, condensateurs, affichage graphique pour l'électronique DIY

2. Tests intelligents : Permet de déterminer le type de composant, la polarité des broches, le gain HFE de sortie, la tension de la diode, la capacité de jonction, etc.

3. Utilisation pratique : Offre une large gamme d'applications pour tester les résistances, les capacités, les inductances, les diodes, les triodes, les thyristors, etc.

4. Compatibilité optimale : Base de test 2 x 4 et zone de test pour composants CMS pour des tests rapides et simples des composants en ligne et CMS. Faible consommation d'énergie.

5. Transport facile : Léger et compact, il est facile à ranger et à transporter pour une utilisation flexible. Type d'article : Testeur de transistors. Modèle : LCR-T4-MAX. Matériaux : Circuit imprimé, écran LCD. Alimentation : 1 pile 9 V 6F22 (non fournie). Utilisations : Mesure de diverses résistances, capacités, inductances, diodes, triodes, thyristors et transistors à effet de champ MOS. Détermine également le type de composant, la polarité des broches, le gain en courant (HFE) de sortie, la tension de la valve et la capacité de jonction des transistors à effet de champ. Affichage : Écran LCD 1286

4. Couleur du rétroéclairage : Blanc. Température de fonctionnement : 0 à 40 °C. Température de stockage : -10 à 60 °C. Humidité relative : Sans condensation < 10 °C. Remarques : 1. Démarrage et test par simple pression d'un bouton. Identification automatique du type de composant, changement automatique de gamme et arrêt automatique après le test.

2. Courant de veille minimal de 20 nA. Consommation en veille négligeable même après une utilisation prolongée. Alimentation par batterie possible.

3. Détection automatique des transistors bipolaires de type PNP et NPN, des MOSFET à canal N et P, des JFET, des diodes, des doubles diodes, des thyristors, des triodes, des résistances, des condensateurs et de leur valeur ESR.

4. Détection automatique du brochage et étiquetage conforme à la séquence réelle.

5. Mesure du facteur d'amplification en courant β des transistors bipolaires, de la tension de seuil de la jonction émetteur et du courant de fuite ICE. 6. Identification des transistors Darlington par leur tension de seuil et leur facteur d'amplification en courant élevés. 7. Détection de la diode de protection MOSFET et de la chute de tension directe Uf pour les transistors bipolaires. 8. Mesure de la tension de seuil Vt et de la capacité de grille C des MOSFET. 9. Détection et détermination de la tension directe d'émetteur, du gain et de la tension de base des transistors et des diodes de protection MOSFET. 10. Mesure et affichage simultanés de deux résistances. Les deux extrémités de la résistance affichée correspondent aux numéros des sondes de test connectées (1 à 3). Le potentiomètre ajustable peut également être mesuré. La résolution de la mesure de résistance est de 0,1 ohm et la valeur maximale mesurable est de 50 MΩ. Les quatre chiffres significatifs de la capacité sont affichés. La valeur de la capacité est comprise entre 25 pF (à 8 MHz, 50 pF à 1 MHz) et 100 mF. La résolution atteint 1 pF (à 8 MHz). La résistance série équivalente (ESR) des condensateurs supérieurs à 2 µF peut être mesurée avec une résolution de 0,01 ohm et affichée sur deux chiffres. Il est possible d'afficher le sens de polarisation des deux diodes et la chute de tension directe. Une LED est détectée comme une diode et clignote plusieurs fois en continu pendant le test. Une double diode électroluminescente est détectée comme une double diode. 16. Les diodes Zener peuvent être testées ; si leur tension de claquage inverse est inférieure à 4,5 V, elles seront considérées comme deux diodes. 17. La capacité inverse d'une diode peut être mesurée. Les transistors bipolaires peuvent également être testés. Dans ce cas, la base et le collecteur ou l'émetteur doivent être connectés. 18. Une seule mesure est nécessaire pour déterminer la connexion d'un pont complet. 19. La capacité maximale testée est de 1 000 000 µF, et la plage de test optimale est de 0,2 nF à 7 000 µF. 20. La plage de test d'inductance est de 0,01 mH à 20 H. Au-delà de 20 H, une résistance inférieure à 2 100 ohms est interprétée comme une inductance. Le résultat de la mesure n'affiche qu'une seule valeur d'inductance. 21. La durée du test est d'environ deux secondes. La durée de mesure de la capacité et de l'inductance est prolongée en fonction de la valeur réelle. 2

2. Arrêt automatique après le test. Le résultat s'affiche pendant environ 25 secondes, puis l'appareil s'éteint. 2

3. Déchargez impérativement le condensateur avant de le tester, sous peine d'endommager le testeur. 2

4. Ce testeur ne convient pas aux dispositifs de puissance et aux amplificateurs. 1 x Testeur de transistors