de transistor multim tre testeur de diode cran TFT calibrage

Écran couleur TFT avancé : dispose d'un écran TFT couleur haute résolution de 160 x 128 qui présente clairement les résultats de mesure au format graphique pour les diodes, les transistors et les condensateurs, lecture facile même dans des conditions de faible luminosité sans avoir besoin de sources d'alimentation externes ou de configurations complexes pour une visualisation immédiate de l'état des composants
Large gamme de capacités de test : détecte avec précision les composants avec résistance allant de 0,01 à 50 m ohms et capacité de 25 pf à 100 mf tout en prenant en charge la détection de diode Zener jusqu'à 30 V et les thyristors bidirectionnels avec igt inférieur à 6 ma, ce qui le rend parfait pour diverses tâches de réparation électronique et projets amateurs nécessitant des données précises
Fonctionnement automatique à un bouton : simplifie le processus de test avec des fonctions d'auto-vérification et d'étalonnage automatique qui identifient les broches et mesurent les valeurs instantanément en appuyant sur un seul bouton, réduisant les erreurs humaines et économisant pour les techniciens qui ont besoin de résultats rapides et fiables sans sélection manuelle de la plage ou étapes de configuration compliquées
Système d'alimentation rechargeable intégré : équipé d'une batterie lithium-ion de grande capacité fournissant une sortie stable de 3,7 V pour une utilisation prolongée sur le terrain, avec des fonctions d'arrêt automatique pour économiser l'énergie et comprend une détection de tension pour surveiller l'état de la batterie performance durable pendant les diagnostics critiques et les travaux de maintenance des circuits imprimés
Design compact et portable : mesure seulement 70 x 90 x 26 mm avec un boîtier en plastique qui se glisse facilement dans les sacs à outils pour les réparations sur site tout en prenant en charge les interfaces anglaise et chinoise pour aider les utilisateurs mondiaux à comprendre rapidement les résultats sans barrières linguistiques pour un dépannage efficace de divers appareils semi-conducteurs