Support de Test Multicouche pour Carte Mère, Mesure Précise, 8 Sondes, Compatible iPhone 13 Pro
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Informations produit
Description
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Découvrez notre cadre de test stratifié pour carte mère, conçu pour une mesure précise et fiable. Il assure un contact exact et stable avec votre équipement, garantissant des résultats de mesure précis et dignes de confiance.
Son fonctionnement est simplifié : la carte mère RF, la carte à aiguilles et la carte logique sont empilées directement sur la base du support de test, sans nécessiter de rondelle, ce qui rend l’opération très facile et rapide.
Grâce à sa taille compacte, ce cadre peut être observé directement sous un microscope, ce qui améliore considérablement votre efficacité de travail. Chaque détail est soigné : la sonde est fabriquée avec une excellente conductivité, une stabilité de surcharge fiable et une détection précise. Elle résiste également au contact avec la colophane et l’étain de soudure.
Ce cadre de test stratifié pour carte mère est spécialement conçu pour les modèles IOS 13, Pro et Mini, offrant une compatibilité optimale.
Caractéristiques techniques :
- Type d’article : Cadre de test stratifié pour carte mère
- Matériau : Alliage d’aluminium
- Procédé de fabrication : CNC, Gravure
- Fonction : Aucune détection d’ajustement pour la carte mère
- Modèles compatibles : IOS 13, Pro, Mini
Contenu de la livraison :
- 1 x Cadre
- 8 x Sondes
- 1 x Flacon de stockage
Optez pour la précision et la durabilité avec ce cadre de test professionnel, idéal pour vos opérations techniques exigeantes.
Caractéristiques
- MarqueLZAB
- CouleurMulticouleur
- Quantité par pack1
- MatièresAluminium
- Type d'accessoires pour outil de mesure & détectionMire
- Réf. ManoManoME242594780
- MMID775203674072
- Réf. fabricantLZ0827[zy]-133982
- EAN7406395813639


















